透射电子显微镜TEM测试的注意事项

　　透射电镜TEM可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。
　　应用范围
　　主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研，是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。
　　tem测试的注意事项：
　　1、样品高度不能超过样品台高度。测试过程中，尤其是向上移动样品时，要缓慢，防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴，损坏设备。
　　2、推拉送样杆时用力必须沿送样杆轴线方向，以防损坏送样杆。
　　3、做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，用以保护电子枪。
　　4、镜筒部分没有放气时，不允许拔掉物镜光阑杆。
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