XRF测试即X射线荧光光谱法(XRF)原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光,进行定性和定量分析。那么,XRF测试的元素有哪些呢?下面中科百测XRF测试机构为您总结出下面这些。
利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。
X射线荧光光谱分析法的特点
(一)优点
(1)分析速度快。
(2)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。
(3)非破坏分析。
(4)X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。
(5)分析精密度高。
(6) X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。
(7)制样简单。
(8)X射线荧光分析系表面分析,测定部位是0.1mm深以上的表面层。
(二)缺点
(1)难于作分析,故定量分析需要标样。
(2)原子序数低的元素,其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。
X射线荧光光谱法XRF样品要求:
1.粉末样品需提供3-5g,样品要200目以下,完全烘干;
2.轻合金(铝镁合金)厚度不低于5mm,其他合金不小于1mm,其他材料厚度需满足3-5mm;
3.检测单元表面尽量平整,且尺寸为4-4.5cm。
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